• 幸和電熱計器
    K-TRX 全反射蛍光X線 ウエハ表面分析装置
  • 幸和電熱計器
    K-MSX 膜密度組成測定装置 薄膜の絶対膜厚測定、密度測定、組成比測定などX線を使用して測定する事ができます。 Al,Cu,Ti,W,Au,Ni,Pt など金属膜やSiO2,SiNなどの透明膜、OEL膜など評価可狽ナす。
  • SE-101
    株式会社フォトニックラティス
    SE-101 PCA-エリプソメータ
  • SE-102
    株式会社フォトニックラティス
    SE-102 PCAエリプソメーター
  • ME-110
    株式会社フォトニックラティス
    ME-110 高速マッピングエリプソメーター
  • ME-210
    株式会社フォトニックラティス
    ME-210 高速マッピングエリプソメーター
  • 株式会社フォトニックラティス
    エリプソメータ
  • WPA-micro
    株式会社フォトニックラティス
    WPA-micro ワイドレンジ2次元複屈折評価システム WPA-200の顕微鏡タイプとなります。 新機能として反射偏光観察機能や観察時のリアルタイム偏光画像モニタリングにより評価位置の設定が容易になっております。
  • PA-micro
    株式会社フォトニックラティス
    PA-micro 顕微鏡型2次元複屈折評価装置 PA-200の顕微鏡タイプとなります。 顕微鏡視野でのサンプルに対して、低倍から高倍の対物レンズを用いることで微小エリアでの二次元複屈折評価を可能としました。
  • PI-110
    株式会社フォトニックラティス
    PI-110 偏光イメージングカメラ 偏光画像のリアルタイムな動画観察が出来ます。