カテゴリー 製品紹介

菱光社 プライベートWeb展示会

非接触三次元測定装置
NHシリーズ

非接触+ステージ走査にて対象に
傷を付けず高精度での測定が可能
となります。

二次元複屈折評価装置
WPAシリーズ

透明体の内部歪み分布を短時間で
定量評価を可能とします。
 

卓上走査電子顕微鏡
JCM-7000

誰でも簡単にSEM像が取得可能
です。コンパクトな卓上型となっ
ているので省スペースです。

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