検査装置
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コンタミネーション解析システム CIX100
高い信頼性と高速性を両立したCIX100を使えば工業規格に沿った顕微鏡検査や検査結果のレビュー、レポート出力が、オペトレ不要な簡単操作で行えます。
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ヌルミラー透過波面測定機 ANI-Z1
ヌルミラーを用いて非球面レンズの光学特性を高速評価
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最終外観検査システム Reel type
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最終外観検査システム Verify Station
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最終外観検査システム ▼Inspection for Flip Chip / Cavity Down
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最終外観検査システム Inspection for PBGA/SIP/CSP
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最終外観検査システム AOI/AFI System
出荷前の最終外観検査システムを導入して検査コストダウンの提案
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MEMS センサー用検査装置
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MEMS 3軸加速度センサー校正・検査装置
