株式会社菱光社
フォトニックラティス

2次元複屈折評価システム

2次元複屈折評価システム
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PA / WPAシリーズ

透明部品の歪み、フィルムの位相差ムラを評価できる装置です。顕微鏡サイズから大きいサイズ(約50cm)まで、測定物に応じたラインナップを揃えております。

PAシリーズは複屈折/位相差の分布を高速に500万画素の高解像度で測定する測定範囲0~130nmの低位相差向け装置です。
ガラス製品、レンズなど位相差が小さな測定対象に向いています。

WPAシリーズは複屈折/位相差の分布を3波長で測定することにより位相差の測定レンジを0~3500nmに拡大したシリーズです。
位相差が大きい透明な樹脂製品の測定に向いています。

    • 二次元複屈折評価装置
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PA-300シリーズ

PAシリーズは複屈折/位相差の分布を高速に500万画素の高解像度で測定する、測定範囲0~130nmの低位相差向け装置です。
ガラス製品、レンズなど小さな位相差の測定対象に向いています。

WPA-200シリーズ

測定レンジの限界を超えて本当の位相差分布を可視化する

WPAシリーズは複屈折/位相差の分布を3波長で測定することにより位相差の測定レンジを0~3500nmに拡大したシリーズです。
フィルムや透明な樹脂製品の測定に向いています。

測定レンジの限界を超えて本当の位相差分布を可視化する

WPA-micro

顕微鏡視野で複屈折を測定できるタイプです。
付属の顕微鏡はエビデント製またはニコン製を選択可能です。

WPA-micro
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