カテゴリー 金属顕微鏡 /LSI検査顕微鏡 ニコン

エクリプスL200ND

反射照明観察では、明視野、暗視野、簡易偏光、微分干渉観察に加えて、UV(365nm)励起を含む落射蛍光観察(L200ND)が可能です。
半導体レジストの残渣や有機ELディスプレイの観察などで威力を発揮します。
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