カテゴリー 検査装置 UTECHZONE

最終外観検査システム AOI/AFI System


▼Inspection for PBGA/SIP/CSP ▼Inspection for Flip Chip / Cavity Down ▼Reel type最終外観検査装置COF,TAB
p-classのご紹介 FCシリーズのご紹介 Reel Type AFIのご紹介

– 出荷前の最終外観検査システムを導入して検査コストダウンの提案 –

▼ピンポイント検査/不良流失防止 …
Verify Stationのご紹介
高分解能 微細なステージ動作による高精度位置合わせ
操作性 半自動動作により検査員のマテハンロスの軽減
データ通信 設備とLAN接続を行いスムーズなデータ呼出し
多機能 顕微鏡検査とモニタ検査の選択が可能

– 検査後の見直しをピンポイント検査し次工程への不良流出防止の提案 –

p-classのご紹介 FCシリーズのご紹介 AFIのご紹介 Verify Station
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