平素は格別のお引立てを賜り、厚くお礼申し上げます。
セミコン・ジャパン2010におきまして、「ウェハレベルの計測装置」をテーマに検査分野での付加価値ある製品をご提案致します。ウェハレベルでの検査・管理を行うことは、生産性の向上・コスト削減と大きなメリットがございますが、具現化へは様々な課題を乗り越えなくてはなりません。皆様の検査課題に対して価値ある提案をさせて頂きます。お越し頂くこと心よりお待ちしております。