Precision apparatus special trading company 
 
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平素は格別のお引立てを賜り、厚くお礼申し上げます。
セミコン・ジャパン2009におきまして、「ウェハレベルプロセスの検査/評価装置」をテーマに検査分野での付加価値のある製品をご提案致します。注目を集めておりますWLPなどウェハレベルプロセスにおける低コスト化を目指す中で、具現化へは様々な課題を乗り越えなくてはなりません。皆様の検査課題に対して新しい提案をさせて頂きます。

開催期間
2009年12月2日(水)〜4日(金) 10:00-17:00
会  場
幕張メッセ 国際展示場⇒SEMICONジャパンホームページ
出展ブース
6HALL No .6B-501