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走査電子顕微鏡 
ネオスコープ
走査電子顕微鏡
SEM
卓上走査電子顕微鏡 NeoScope JCM-6000Plus外観
JCM-6000 Plus




高感度半導体検出器採用により据置き型装置と同等クラスの解像度を実現しました。
分析走査電子顕微鏡 JSM-IT100外観

InTouchScope JSM-IT200




よりコンパクトで多機能を実現したオールインワンSEMです


走査電子顕微鏡 
SEM
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卓上走査電子顕微鏡 NeoScope JCM-6000Plus外観

InTouchScope JSM-IT500




高機能かつ高い操作性を両立したW-SEMクラス最上位機種
「視野探し」「EDS分析」などの作業をより効率的に行う事が可能 どなたかが操作してもストレスなく扱える装置です
卓上走査電子顕微鏡 NeoScope JCM-6000Plus外観

InTouchScope JSM-IT500HR




JSM-IT500の操作性を継承しつつ、高分解能を求めるお客様向け装置
W-SEMとFE-SEMの間を埋める新しいクラスの装置となります



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