Precision apparatus special trading company 
 
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貴社ますますご清栄のこととお喜び申し上げます。日頃は格別のお引き立てを賜り、誠にありがとうございます。                          
このたび、4月21日(水)〜23日(金)の3日間、パシフィコ横浜にて開催されるレンズ設計・製造展2010
菱光社ブース(G-26)にて以下の製品を出展致します。ご多忙のところ恐縮に存じますが、この機会に是非とも
ご来場賜り、ご高覧いただきたくご案内申し上げます。ご来場を心よりお持ちいたしております。

開催期間:
2010年4月21日(水)〜23日(金)10:00〜17:00
会   場: パシフィコ横浜(HP) ブースNo. G-26

【出展製品紹介】
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ウェハレベルカメラ向けレンズのスタンダードを狙う非接触3次元測定機です。

用途は形状測定、曲率R、頂点位置、真円度や円フィッティング、非球面評価、表面粗さ や光学特性など多機能、多用途で対応でき、レンズ以外では半導体、MEMS、工具、他の 射出成型品、輪郭形状測定用途にて多くの実績がございます。
ステージ走査型で独自の座標系を有し、測定範囲が顕微鏡視野内に限定されない事から、ウェハレベルカメラ向けで は高精度張り合わせの実現、レンズ形状や高さ管理、レンズ偏芯、各種光学特性(MTF、BFL、焦点位置、収差)測定を1台で賄え、 歩留まり向上のツールとしてお役に立てる事間違いありません。


高画素レンズで課題とされている内部応力による光学特性のバラツキにおいて、複屈折により 定量化できるシステムです。独自の技術で開発したフォトニック結晶素子をCCDカメラに張り合わせ、 内部歪みを瞬時に評価します。


高輝度UV-LEDライトを搭載したローコスト、フルマニュアルタイプで、転写範囲は最大100×100mm迄対応出来ます。研究初期における金型や転写材料、離形材の選定や転写条件の策定に一役買います。


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1 製造現場で、レンズ性能(倍率色収差や色収差の有無)を簡単・瞬時に可視化できる装置が誕生 しました。操作に特別な技術は必要としません。この機会に是非、ご覧下さい。



 

 
株式会社菱光社
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