Precision apparatus special trading company 
 
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ETシリーズ詳細ページへ
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精度・安定性・機柏ォ抜群で、FPD基板・ウエハー・ハードディスク等の微細形状、段差、粗さ測定に最適な全自動微細形状測定機です。
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薄膜の絶対膜厚測定、密度測定、組成比測定などX線を使用して測定する事ができます。
Al,Cu,Ti,W,Au,Ni,Pt など金属膜やSiO2,SiNなどの透明膜、OEL膜など評価可狽ナす。
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300mmまでのウエハに対応した全反射蛍光X線装置測定元素はNa〜Uまでを対象としエッジ測定やマッピング機狽ノ対応。高性煤A低価格を両立させたコストパフォーマンスの高い装置となります。
ShuttlePix詳細ページへ
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顕微鏡の新時代へ=シャトル・スタイル
場所を選ばないハンディ撮影、コードレスが実現するあらゆるシーンでの画像撮影
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高速・高感度・大面積にフィルム、基板等の全面の均一性を高感度に検出
BW-D50X
BW-D50X
ニコン独自の走査型光干渉計測技術により、1pmの高さ分解狽実現
LEXT詳細ページへ
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高分解狽ナの観察と高い繰り返し性を実現。世界で初めて「明視野」「暗視野」「微分干渉観察」を搭載。簡単に多彩な検査計測が可狽ノなります。
AOI/AFIシリーズ詳細へ
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出荷前の最終外観検査システムを導入して検査コストダウンの提案
NEXIV VMRシリーズ詳細へ
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4タイプ8機種のご紹介。楓ハ形状に依存しない高精度AFを実現する高速TTLレーザAF採用。多機狽ゥつユーザーフレンドリーな操作性が実現しています。
MMシリーズ詳細へ
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定評ある光学技術と最新の制御技術により、これまでにない精密高さ測定を実現。
MM-200
MM-200
場所を選ばないコンパクトボディに、高品質な測定機狽凝縮。
これまでにない、優れたコストパフォーマンスに大注目!
RD-80SA
RD-80SA
LEDランプの光出力フリッカ計測に最適!!
シーケンシャル方式3Dディスプレイの高画質化改善の決め手であるクロストークの検出、輝度・色度測定が可煤I!

株式会社菱光社
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