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新着情報
2014.11.21  【菱光社ブース出展のご案内】
展示会名:セミコンジャパン SEMICON Japan 2014
開催期間:2014年12月3日(水)~ 12月5日(金) 10:00~17:00
会  場:東京ビッグサイト 東展示棟 (東京都江東区有明3-11-1)
小間番号:No.2431 東2ホール
入 場 料:来場者登録は無料
※なお、来場登録は下記のWebサイトから可能です。
SEMICON JAPAN 2014 の詳細は下記のWebサイトにてご確認ください。 http://www.semiconjapan.org/ja/exhibits/register
2014.10.17  【菱光社ブース出展のご案内】PDF出展のご案内(PDF:217KB
展示会名:日本国際工作機械見本市(JIMTOF2014)
開催期間:10月30日(木)~11月4日(火) 9:00~17:00
会  場:東京ビッグサイト 菱光社ブース:W3048
2014.10.14  【菱光社ブース出展のご案内】PDF出展のご案内(PDF:161KB
展示会名:国際プラスチックフェア(IPF JAPAN 2104)
開催期間:10月28日(木)~11月1日(土)
会  場:幕張メッセ(千葉県)
2014.09.10  株式会社山善との資本業務提携のお知らせ
2014.09.02  ブルカー・オプティクス「FT-IRの基礎と応用セミナー」のご案内。
さいたま10/21(火)、仙台10/24(金)
2014.09.02  菱光社ベトナムホームページを開設致しました。
2014.09.01  第30回モノづくりフェア2014 in 福岡【10/15(水)~10/17(金)】への出展案内を掲載致しました。
2014.03.18  第5回高機能フィルム展への出展案内を掲載致しました。
2013.11.20  セミコンジャパン2013への出展案内を掲載致しました。
2013.10.04  「FT-IRの基礎と応用セミナー (初級編)」のご案内【2013年11月7日 (木)・8日(金)】
2013.09.12  測定計測展2013(2013年9月25日~27日【東京ビックサイト東ホール:M27】)への出展案内を掲載致しました。
2013.08.23  OLYMPUS 3D測定レーザー顕微鏡OLS4100 / ナノサーチ顕微鏡OLS4500を掲載致しました。
2013.07.20  『台北國際光電週‐國際光電大展』において、技術講演を行わせて頂きました。
2013.07.05  【7/23(火)】検査・計測・分析サポートセミナー開催のお知らせ。
2013.05.14  NIKON X線/CT検査装置を掲載致しました。
2013.03.22  第4回高機能フィルム展(フィルムテックジャパン)出展案内を掲載致しました。
2013.01.15  NIKON 超高分解能非接触三次元表面形状計測システム BW-D50Xを掲載致しました。
2013.01.15  TOPCON 色彩応答度検出器 RD-80SAを掲載致しました。
2013.01.15  自動線幅測定システムTARCY LS200を掲載致しました。
2012.12.01  本社移転のお知らせ
2012.11.19  セミコンジャパン2012への出展案内を掲載致しました。
2012.11.14  Metalex2012(Bangkok,Thailand)への出展内容を掲載致しました。
2012.10.01  RYOKOSHA(Vietnam)CO.,LTD Hanoi Office開設
2012.09.18  幸和電熱計器 X線膜厚測定機【K-MSX】【K-TRX】を掲載致しました。
2012.09.12  フォトニックラティス製品ページを更新しました。【複屈折測定】【高速マッピングエリプソ】
2012.07.11  菱光社オリジナル 表裏測定システムTSMSシリーズを掲載致しました。
2012.07.11  JEOL 走査電子顕微鏡 JCM-6000、JCM-6010LAを掲載致しました。
2012.06.27  MTA VIETNAM 2012 7/3~6 【NIKON AJ4-1ブース】 【FUTURE-TECH AK4-6ブース】
2012.05.14  秋田出張所新設のお知らせ
2012.05.07  金沢出張所新設のお知らせ
2012.04.11  第22回 ファインテックジャパン【4月11日(水)~13日(金)】出展のご案内。
2011.11.15  セミコンジャパン2011への出展案内を掲載致しました。
2011.09.22  Metalex Vietnam 2011 出展のご案内 【NIKON D15ブース】 【FUTURE-TECH A03ブース】
2011.09.20  九州出張所 事務所移転のご案内
2011.07.01  Nikon デジタルマイクロスコープ ShuttlePix P-400Rを掲載致しました。
2011.06.10  MTAベトナム2011 ベトナム工作機械展への出展案内を掲載致しました。
2011.05.10  フォトニックラティス ME-210を掲載致しました。
2011.05.10  フォトニックラティス PA-micro、WPA-micrを掲載致しました。
2011.04.28  三鷹光器 非接触表面性状測定装置 PF-60を掲載致しました。
2011.04.26  上海駐在事務所開設のお知らせ
2011.04.10  高速・高感度・大面積のマクロ観察ツール ARCscan Series を掲載致しました。
2010.11.17  Metalex2010(Bangkok,Thailand)への出展内容を掲載致しました。
2010.11.17  セミコンジャパン2010への出展案内を掲載致しました。
2010.10.31  大宮営業所・水戸出張所 事務所移転のご案内
2010.09.16  露光装置を掲載致しました。
2010.09.01  第4回ベトナムMETALEX2010への出展案内を掲載致しました。
2010.07.01  中国語(繁体字)サイトを公開致しました。
2010.06.30  MTAベトナム2010 第7回ベトナム工作機械展への出展案内を掲載致しました。
2010.04.16  西東京営業所・計測開発室・山陰出張所 事務所移転のご案内
2010.04.02  レンズ設計・製造展2010への出展案内を掲載致しました。
2010.03.16  ニコン 測定顕微鏡 MM-200を掲載致しました。
2010.03.08  ニコン CNC画像測定システム NEXIVシリーズを更新しました。
2010.02.02  コンフォーカルNEXIVのこんな優れた点ご存知ですか?
2010.02.02  ニコン コンフォーカルNEXIV VMZ-K6555を掲載致しました。
2010.01.12  LED関連製品(外観検査装置・ダイボンダ)を掲載致しました。
2009.12.10  複屈折測定(WPA-100・ME-100)を掲載致しました。
2009.12.10  半導体ダイジェストカタログを掲載致しました。こちらからダウンロードいただけます。
2009.12.03  環境試験機(恒温槽・試験機)を掲載致しました。
2009.11.25  微細加工計測(ナノインプリント・ウェハレベルカメラ・高精度金型受託)を掲載致しました。
2009.11.06  セミコンジャパン2009への出展案内を掲載致しました。
2009.11.04  Metalex2009(Bangkok,Thailand)への出展内容を掲載致しました。
2009.06.18  フジノン コンパクトレーザー干渉計F601システムを掲載しました。
2009.05.11  大宮営業所 事務所移転のご案内
2009.03.28  レンズ設計・製造展2009への出展案内を掲載致しました。
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