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新着情報
2012.05.07 金沢出張所新設のお知らせ
2012.04.11 第22回 ファインテックジャパン【4月11日(水)~13日(金)】出展のご案内。
2011.11.15 セミコンジャパン2011への出展案内を掲載致しました。
2011.09.22 Metalex Vietnam 2011 出展のご案内 【NIKON D15ブース】 【FUTURE-TECH A03ブース】
2011.09.20 九州出張所 事務所移転のご案内
2011.07.01 Nikon デジタルマイクロスコープ ShuttlePix P-400Rを掲載致しました。
2011.06.10 MTAベトナム2011 ベトナム工作機械展への出展案内を掲載致しました。
2011.05.10 フォトニックラティス ME-210を掲載致しました。
2011.05.10 フォトニックラティス PA-micro、WPA-micrを掲載致しました。
2011.04.28 三鷹光器 非接触表面性状測定装置 PF-60を掲載致しました。
2011.04.26 上海駐在事務所開設のお知らせ
2011.04.10 高速・高感度・大面積のマクロ観察ツール ARCscan Series を掲載致しました。
2010.11.17 Metalex2010(Bangkok,Thailand)への出展内容を掲載致しました。
2010.11.17 セミコンジャパン2010への出展案内を掲載致しました。
2010.10.31 大宮営業所・水戸出張所 事務所移転のご案内
2010.09.16 露光装置を掲載致しました。
2010.09.01 第4回ベトナムMETALEX2010への出展案内を掲載致しました。
2010.07.01 中国語(繁体字)サイトを公開致しました。
2010.06.30 MTAベトナム2010 第7回ベトナム工作機械展への出展案内を掲載致しました。
2010.04.16 西東京営業所・計測開発室・山陰出張所 事務所移転のご案内
2010.04.02 レンズ設計・製造展2010への出展案内を掲載致しました。
2010.03.16 ニコン 測定顕微鏡 MM-200を掲載致しました。
2010.03.08 ニコン CNC画像測定システム NEXIVシリーズを更新しました。
2010.02.02 コンフォーカルNEXIVのこんな優れた点ご存知ですか?
2010.02.02 ニコン コンフォーカルNEXIV VMZ-K6555を掲載致しました。
2010.01.12 LED関連製品(外観検査装置・ダイボンダ)を掲載致しました。
2009.12.10 複屈折測定(WPA-100・ME-100)を掲載致しました。
2009.12.10 半導体ダイジェストカタログを掲載致しました。こちらからダウンロードいただけます。
2009.12.03 環境試験機(恒温槽・試験機)を掲載致しました。
2009.11.25 微細加工計測(ナノインプリント・ウェハレベルカメラ・高精度金型受託)を掲載致しました。
2009.11.06 セミコンジャパン2009への出展案内を掲載致しました。
2009.11.04 Metalex2009(Bangkok,Thailand)への出展内容を掲載致しました。
2009.06.18 フジノン コンパクトレーザー干渉計F601システムを掲載しました。
2009.05.11 大宮営業所 事務所移転のご案内
2009.03.28 レンズ設計・製造展2009への出展案内を掲載致しました。
 
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